顯而易見，X射線衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎(chǔ)且不能缺少的分析手段，具備無損、樣品制備簡單等優(yōu)勢。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測角儀、樣品臺(tái)、光路系統(tǒng)、探測器五大部分組成。

Bruker在已有的D2 Phaser的基礎(chǔ)上，結(jié)合具備優(yōu)異性能的LYNXEYE系列能量色散陣列探測器的優(yōu)勢，在桌面衍射儀這個(gè)平臺(tái)上大膽的嘗試了新的結(jié)構(gòu)和運(yùn)動(dòng)邏輯，強(qiáng)勢推出了一款跨界的桌面衍射系統(tǒng)——D6 Phaser。

產(chǎn)品亮點(diǎn)總結(jié)：

Ⅰ.功率可選的X射線光源

D6 Phaser提供了兩種可選的X射線光源功率， 600W/1200W，測試強(qiáng)度可媲美大型落地式機(jī)型，滿足不同應(yīng)用需求。

Ⅱ.高精度的測角儀

D6 Phaser保證在剛玉標(biāo)樣全譜范圍內(nèi)（20－140°），任何一個(gè)衍射峰的測量誤差不超過±0.01°，與大型落地式機(jī)型旗鼓相當(dāng)。

Ⅲ.多功能平臺(tái)拓展

D6 Phaser同時(shí)還可以實(shí)現(xiàn)以前只有在大型落地式機(jī)型上的多功能測試，如：

◇  薄膜掠入射測試（GID）

◇  薄膜反射率測試（XRR）殘余應(yīng)力測試

◇  織構(gòu)測試

◇  毛細(xì)管透射測試

從功能性的角度出發(fā)，上一代桌面式衍射儀D2 PHASER由于空間大小的限制，只能完成粉末、塊體、常規(guī)薄膜等樣品的分析測試，無法實(shí)現(xiàn)更多功能的拓展；

而D6 PHASER則打破了桌面式衍射儀功能上的限制，如：

①薄膜掠入射（GID）測試：利用平行光路和可以調(diào)整樣品高度的Z軸樣品臺(tái)的配合；

②應(yīng)力&織構(gòu)測試：采用點(diǎn)焦斑和具備Chi和Phi方向運(yùn)動(dòng)的樣品臺(tái)的配合；

③原位變溫測試：利用原位變溫的樣品倉來實(shí)現(xiàn)；

④毛細(xì)管透射：需毛細(xì)管樣品臺(tái)和透射光學(xué)的配合等，這些應(yīng)用的拓展將在薄膜材料、金屬材料、藥物、陶瓷材料等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)重要的功能延升，實(shí)現(xiàn)桌面式衍射儀的多功能平臺(tái)。

從基本配置選擇上，D6 PHASER也提供更多的適用性：

①光管功率：提供了三種選擇，用戶可根據(jù)應(yīng)用來選擇更適用的匹配；

②自動(dòng)進(jìn)樣裝置：D6 PHASER提供的12位的自動(dòng)進(jìn)樣裝置供用戶選擇，很大程度上節(jié)省了人工成本；

③水冷的選擇：D6 PHASER除了自身的內(nèi)部水冷以外，用戶亦可選擇外接等等，更加追求并支持不同用戶不同需求的定制化方案。

此外，D6 PHASER也是秉承了布魯克的傳統(tǒng)優(yōu)勢。

θ/θ掃描方式的高精度測角儀，給您準(zhǔn)確的角度位置，為您的物相定性打下基礎(chǔ)；同樣可搭載LYNXEYE全系的能量色散陣列探測器，相比傳統(tǒng)的陣列探測器多了能量分辨的功能，很大程度上免除了噪音和背景對數(shù)據(jù)的干擾，提升了信噪比和峰背比，為您的全譜擬合、結(jié)構(gòu)精修、無標(biāo)定量等保駕護(hù)航。

D6 PHASER二維衍射實(shí)現(xiàn)方法D6 PHASER提供了反射幾何下的兩種二維衍射實(shí)現(xiàn)方法，Bragg-2D和Phi-1D掃描方法：

Bragg-2D方法中不需要移動(dòng)樣品，相反地，通過選擇較大的入射光路發(fā)散度，將樣品大面積暴露在X射線束下，并在Δ? vs. 2Theta空間中可視化展現(xiàn)來自不同晶粒的衍射信號。

Phi-1D方法則需要使用旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)，使用較窄的X射線束照射樣品，探測器定位在特定的2Theta峰位置，通過旋轉(zhuǎn)樣品同時(shí)連續(xù)探測器快照拍攝來對晶粒進(jìn)行成像。相應(yīng)的X射線衍射儀樣品臺(tái)配置如圖1所示。

圖1. D6 PHASER固定樣品臺(tái)(左)用于Bragg2D衍射，旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)(右)用于Bragg2D和Phi-1D二維衍射

圖2顯示了粗晶粒粉末樣品的二維衍射圖，包含大量的不連續(xù)斑點(diǎn)。在常規(guī)的一維粉末衍射測量中，衍射信號將沿著衍射線進(jìn)行積分，用戶不會(huì)意識(shí)到樣品粒度是不均勻的。而現(xiàn)在得益于快速的二維衍射測量，用戶認(rèn)識(shí)到在進(jìn)行定量的一維XRD測量之前，樣品應(yīng)該被更細(xì)的粉碎。

圖2. DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖樣品的Phi-1D掃描

圖像的水平軸對應(yīng)于Phi旋轉(zhuǎn)，而垂直軸顯示探測器快照。數(shù)據(jù)采集使用D6 PHASER 600W, Co靶，K-beta濾波器，2.5°Soller準(zhǔn)直器，可變發(fā)散狹縫(恒定開口，0.25 mm)，無空氣散射屏。使用LYNXEYE-2探測器進(jìn)行連續(xù)phi掃描，步長0.9度，曝光時(shí)間1秒，總掃描時(shí)間401秒，探測器達(dá)到 2Theta開口4.97°。

第二個(gè)例子(圖3)展示了小晶粒的優(yōu)先取向情況。垂直線顯示了較寬的強(qiáng)度調(diào)制，然而對于隨機(jī)取向的材料來說，強(qiáng)度應(yīng)該是恒定的。此外，衍射信號具有不同的寬度，表明存在微觀應(yīng)變。對于該測試鋁箔，只有通過樣品的不同取向測試才能獲得更好的平均信號。相對應(yīng)地，在測量粉末樣品時(shí)，在樣品制備過程中應(yīng)盡量重新定向晶體使其更加取向隨機(jī)，或者用較小的接觸壓力將粉末壓實(shí)。

圖3. DIFFRAC.EVA軟件二維展示使用Co特征X射線測量的軋制鋁板樣品的Phi-1D掃描圖譜